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用于DAX成像的全视场散射估计

摘要

一种被配置用于相衬成像和/或暗场成像的X射线成像系统(XI)。所述系统包括:X射线源(XS),其能操作用于使X辐射从所述源(XS)的焦斑(SF)发出;以及X射线敏感探测器(D),其能操作用于:如果在所述X射线源与所述探测器(D)之间存在要被成像的对象,则在所述X辐射与所述对象发生相互作用之后探测所述X辐射。控制逻辑单元(CL)能操作用于使所述X射线成像装置在两种模式中的任意一种模式中操作,所述两种模式是对象图像采集模式和散射测量模式。当在散射测量模式中时在所述探测器处能接收到的所述X辐射与当所述系统在对象图像采集模式中时能接收到的X辐射相比包括更高比例的散射辐射。

著录项

  • 公开/公告号CN113453623A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 皇家飞利浦有限公司;

    申请/专利号CN202080014912.8

  • 申请日2020-11-25

  • 分类号A61B6/00(20060101);

  • 代理机构72002 永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人刘兆君

  • 地址 荷兰艾恩德霍芬

  • 入库时间 2023-06-19 12:43:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-08-09

    授权

    发明专利权授予

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