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一种在EDA软件中建立芯片三维扩散模型的建模方法

摘要

本发明公开了一种在EDA软件中建立芯片三维扩散模型的建模方法,所述方法包括:在待建模芯片的版图中确定掩膜版,并识别所述掩膜版当前所处的工艺步骤;采用与所述工艺步骤相适配的浓度计算方式,确定所述掩膜版对应的注入或淀积材料在半导体衬底材料中或表面的扩散浓度分布与距离指标的关联关系;识别所述掩膜版上的工艺结构形状,并基于所述关联关系,建立所述工艺结构形状对应的扩散模型,并将所述扩散模型和所述工艺结构形状的组合作为所述待建模芯片的建模结果。本发明提供的技术方案,能够使得芯片的建模结果与芯片的实际结构相符,从而达到较准确的建模效果。

著录项

  • 公开/公告号CN113420525A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 苏州贝克微电子有限公司;

    申请/专利号CN202110964800.5

  • 发明设计人 不公告发明人;

    申请日2021-08-23

  • 分类号G06F30/392(20200101);

  • 代理机构11250 北京三聚阳光知识产权代理有限公司;

  • 代理人张琳琳

  • 地址 215000 江苏省苏州市高新区科技城科灵路78号

  • 入库时间 2023-06-19 12:40:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-02-08

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G06F30/392 专利号:ZL2021109648005 变更事项:专利权人 变更前:苏州贝克微电子有限公司 变更后:苏州贝克微电子股份有限公司 变更事项:地址 变更前:215000 江苏省苏州市高新区科技城科灵路78号 变更后:215000 江苏省苏州市高新区科技城济慈路150号1幢

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

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