首页> 中国专利> 浮点运算单元测试方法、装置、集控设备以及存储介质

浮点运算单元测试方法、装置、集控设备以及存储介质

摘要

本发明公开一种浮点运算单元测试方法,用于集控设备,所述集控设备与待测试浮点运算单元连接,所述方法包括以下步骤:接收用户发送的第一目标配置参数和目标测试用例数量;基于所述第一目标配置参数和所述目标测试用例数量,利用预设测试包集合,生成目标测试用例;将所述目标测试用例发送至所述待测试浮点运算单元,以使所述待测试浮点运算单元利用所述目标测试用例进行测试,以获得测试结果;接收所述待测试浮点运算单元返回的所述测试结果。本发明还公开一种浮点运算单元测试装置、集控设备以及计算机可读存储介质。利用本发明的方法,提高了待测试浮点运算单元的测试效率。

著录项

  • 公开/公告号CN113407392A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 鹏城实验室;

    申请/专利号CN202110562416.2

  • 发明设计人 付鹏宇;张凡;高峰;王明昳;

    申请日2021-05-21

  • 分类号G06F11/22(20060101);

  • 代理机构44287 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所;

  • 代理人刘瑞花

  • 地址 518000 广东省深圳市南山区兴科一街2号

  • 入库时间 2023-06-19 12:37:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-07-29

    授权

    发明专利权授予

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号