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大尺寸芯片及其制作方法、大尺寸芯片晶圆

摘要

本发明提供一种大尺寸芯片及其制作方法、大尺寸芯片晶圆。制作方法包括:提供一晶圆,晶圆包括若干大尺寸芯片,大尺寸芯片的大小大于光刻机的最大曝光视场;大尺寸芯片包括至少两个拼接芯片;拼接芯片包括衬底和第一金属层,第一金属层至少包括用于不同拼接芯片之间互连的待互连金属层;形成第二金属层,第二金属层至少包括片间互连金属层,片间互连金属层跨越相邻的拼接芯片之间的虚拟划片区,且分别与相邻的拼接芯片各自的待互连金属层电连接。本发明在大尺寸芯片上实现不同的拼接芯片之间的互连,小的拼接芯片通过互连功能拓展,实现大尺寸芯片级的电信号互连优化,以实现更多的功能整合,更具灵活性和兼容特性。

著录项

  • 公开/公告号CN113394121A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉新芯集成电路制造有限公司;

    申请/专利号CN202110654051.6

  • 申请日2021-06-11

  • 分类号H01L21/56(20060101);H01L23/498(20060101);H01L23/528(20060101);

  • 代理机构31237 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人田婷

  • 地址 430205 湖北省武汉市东湖开发区高新四路18号

  • 入库时间 2023-06-19 12:33:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-03-24

    授权

    发明专利权授予

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