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一种SiC纳米阵列的电化学刻蚀法制备工艺

摘要

本发明公开了一种SiC纳米阵列的电化学刻蚀法制备工艺,选取N掺杂的4H‑SiC单晶片为原料,切割为多片小晶片A;将氢氟酸与无水乙醇按照一定比例混合得到混合液B;将氢氟酸、乙醇和过氧化氢按一定比例混合,得到混合液C;将小晶片A清洗10‑15min,去除表面杂质;将小晶片A置入混合液B中浸泡2‑5min,去除表面氧化物;将小晶片A干燥10‑20min;将干燥好的小晶片A作为阳极,石墨片作为阴极,放入混合液C中,用15‑20V脉冲电源进行刻蚀。通过采用以上技术方案,可以在常温常压的条件下,实现对SiC纳米阵列的制备。

著录项

  • 公开/公告号CN113380616A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 江苏尚今光电科技有限公司;

    申请/专利号CN202010158248.6

  • 发明设计人 牛昌明;杨为佑;

    申请日2020-03-09

  • 分类号H01L21/3063(20060101);C30B33/10(20060101);C30B29/36(20060101);B82Y40/00(20110101);

  • 代理机构11427 北京科家知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人艾秀丽

  • 地址 225600 江苏省扬州市高邮市送桥镇天山工业集中区

  • 入库时间 2023-06-19 12:32:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-09-15

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L21/3063 专利申请号:2020101582486 申请公布日:20210910

    发明专利申请公布后的视为撤回

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