公开/公告号CN113358662A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-09-07
原文格式PDF
申请/专利权人 广东奥普特科技股份有限公司;
申请/专利号CN202110651221.5
申请日2021-06-10
分类号G01N21/88(20060101);G01N21/01(20060101);
代理机构11227 北京集佳知识产权代理有限公司;
代理人韩静粉
地址 523000 广东省东莞市长安镇锦厦社区河南工业区锦升路8号
入库时间 2023-06-19 12:30:38
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2023-10-27
发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N21/88 专利申请号:2021106512215 申请公布日:20210907
发明专利申请公布后的驳回
机译: 基于像素的半导体晶圆表面缺陷检测方法,装置和光学头
机译: 砷化镓晶圆表面缺陷的检测方法
机译: 晶圆抛光头表面缺陷的检测装置