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理论光谱数据的优化方法、系统、电子设备及测量方法

摘要

本发明提供一种理论光谱数据的优化方法、系统、电子设备及测量方法,优化方法包括:获取一在X、Y方向均具有周期性结构的样品模型;获取样品模型在X、Y方向上的收敛级次对集合;设定收敛级次对组;遍历收敛级次对集合中的收敛级次对组,获取收敛级次对组中每一收敛级次对的去除均方误差;将去除均方误差与第一阈值进行比较,过滤所有小于第一阈值的去除均方误差对应的收敛级次对,形成优化级次对集合;获取优化级次对集合对应的理论光谱数据。本发明在收敛级次对集合中通过第一阈值过滤去除均方误差较小的收敛级次对,优化后的收敛级次对集合的级次对的个数比原先的收敛级次对集合中级次对的个数少,从而有效提升理论光谱数据的计算效率。

著录项

  • 公开/公告号CN113343182A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海精测半导体技术有限公司;

    申请/专利号CN202110736991.X

  • 发明设计人 张晓雷;张厚道;施耀明;

    申请日2021-06-30

  • 分类号G06F17/18(20060101);G06F17/17(20060101);

  • 代理机构42224 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人张英

  • 地址 201702 上海市青浦区徐泾镇双浜路269、299号1幢1、3层

  • 入库时间 2023-06-19 12:25:57

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