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一种银线型触头烧蚀区域形貌三维粗糙度表征方法

摘要

本申请提供一种银线型触头烧蚀区域形貌三维粗糙度表征方法,包括获取触头表面形貌图像以及表面形貌图像对应的原始点云数据集;提取触头表面形貌图像上的触头烧蚀区域轮廓;将触头烧蚀区域轮廓映射至原始点云数据集,得到与触头烧蚀区域对应的烧蚀区域点云数据集;拟合烧蚀区域点云数据集,得到触头表面形貌的基准面;计算烧蚀区域点云数据集与基准面上对应点处的高度偏差,得到校正后点云数据集;计算校正后点云数据集对应的触头烧蚀区域形貌三维粗糙度的表征参数。该方法可避免包含大量无关数据,结果准确,误差较小,得到的表征参数可精准表征银线型触头烧蚀区域形貌三维粗糙度,对于研究触头表面功能特性及继电器可靠性具有十分重要的意义。

著录项

  • 公开/公告号CN113344823A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 河北工业大学;

    申请/专利号CN202110730278.4

  • 发明设计人 李文华;赵培董;王景芹;

    申请日2021-06-29

  • 分类号G06T5/00(20060101);G06T5/40(20060101);G06T7/13(20170101);

  • 代理机构12233 天津市鼎拓知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘雪娜

  • 地址 300401 天津市北辰区双口镇西平道5340号

  • 入库时间 2023-06-19 12:25:57

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-05-10

    授权

    发明专利权授予

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