用于从测量中创建技术系统的模型的方法和设备

摘要

用于从测量中创建技术系统的模型的方法和设备。本发明涉及一种用于根据技术系统的所测量的传感器数据来创建技术系统的模型的方法，所述方法包括以下步骤：初始化符号回归问题（英语：symbolic regression problem）。确定数学函数的列表，所述列表包括至少一个线性和/或非线性函数和/或至少一维可参数化的特性曲线。所述至少一维特性曲线通过平滑网格回归（SGR）模型实施。借助于遗传算法解决符号回归问题。