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一种用于可见光探测器MTF与抗弥散测试的测试系统

摘要

一种用于可见光探测器MTF与抗弥散测试的测试系统,涉及光学系统图像探测器技术领域,解决了现有针对高度集成自动化的MTF测试系统技术需求,包括暗室、光学成像系统、移动平台系统和显控终端系统,光学成像系统和移动平台系统均位于暗室中且均连接显控终端系统;光学成像系统能够将测试靶标目标成像到待测可见光探测器;移动平台系统能够移动放置在其上的待测可见光探测器以实现测试靶标目标成像到可见光探测器;显控终端系统能够控制光学成像系统和移动平台系统工作,能够接收待测可见光探测器的图像数据,能够计算被测可见光探测器的MTF和抗弥散能力。本发明保证了检测精度与功能多样,缩小了体积,对外界环境要求不高。

著录项

  • 公开/公告号CN113188765A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-07-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 长光卫星技术有限公司;

    申请/专利号CN202110439011.X

  • 申请日2021-04-23

  • 分类号G01M11/02(20060101);G06F17/15(20060101);

  • 代理机构22214 长春众邦菁华知识产权代理有限公司;

  • 代理人宁晓丹

  • 地址 130000 吉林省长春市北湖科技开发区明溪路1299号

  • 入库时间 2023-06-19 12:04:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-06-09

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01M11/02 专利申请号:202110439011X 申请公布日:20210730

    发明专利申请公布后的视为撤回

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