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一种光路准直调试系统和光路准直调试方法

摘要

一种光路准直调试系统和光路准直调试方法,光路准直调试系统包括:光源;反射式布拉格光栅,所述反射式布拉格光栅的衍射角度可调;位于所述光源和所述反射式布拉格光栅之间的准直透镜,所述准直透镜沿光路上的位置可调;位于所述反射式布拉格光栅一侧的探测单元;所述反射式布拉格光栅适于接收被所述准直透镜准直之后的光并衍射至探测单元。所述光路准直调试系统评判光束的准直性的准确性提高。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

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    法律状态

  • 2023-08-08

    著录事项变更 IPC(主分类):G01M11/02 专利申请号:2021103853487 变更事项:申请人 变更前:苏州长光华芯光电技术股份有限公司 变更后:苏州长光华芯光电技术股份有限公司 变更事项:地址 变更前:215000 江苏省苏州市高新区昆仑山路189号科技城工业坊-A区2号厂房-1-102、2号厂房-2-203 变更后:215000 江苏省苏州市高新区漓江路56号 变更事项:申请人 变更前:苏州长光华芯半导体激光创新研究院有限公司 变更后:苏州长光华芯半导体激光创新研究院有限公司

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