应用于TDDI芯片遇到小坑时触控面板TP的扫描方法

摘要

本发明提出了一种应用于TDDI芯片遇到小坑时触控面板TP的扫描方法，包括以下步骤：S1、亮屏模式下，设置触控面板TP的默认扫描方式是第一扫描模式Long H Mode；S2、在该模式下，当检测到触控面板TP的扫描信号处于H_Te下降沿时，触控面板TP开始扫描，在第一个坑内触控面板TP电路的CA进行充电，在第二个坑内进行AD的采样。基于本方案，虽然坑的长度不够扫描一次，通过软件配置，让触控面板TP在第一个坑内进行CA的充电，在第2个坑内进行AD的采样，2个坑扫一次也可以避开显示面板DP信号干扰，从而消除BASE差现象。