公开/公告号CN112924442A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-06-08
原文格式PDF
申请/专利权人 中国检验检疫科学研究院;
申请/专利号CN202110094557.6
申请日2021-01-25
分类号G01N21/78(20060101);G01N21/33(20060101);
代理机构11416 北京律恒立业知识产权代理事务所(特殊普通合伙);
代理人庞立岩;顾珊
地址 100176 北京市大兴区经济技术开发区荣华南路11号
入库时间 2023-06-19 11:19:16
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-09-13
授权
发明专利权授予
机译: 铜离子比色检测传感器的Ⅱ型表面修饰纳米粒子的制备方法及比色检测方法
机译: 表面修饰的纳米粒子,其制备方法,铜离子的比色检测传感器(II)和比色检测方法
机译: 比色法测定金纳米粒子中的铜离子及其检测方法