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一种电镀工件表面瑕疵视觉检测中边缘反射光斑剔除方法

摘要

本发明公开了一种电镀工件表面瑕疵视觉检测中边缘反射光斑剔除方法,属于表面缺陷无损检测领域。本发明通过对工件原始图像灰度信息进行分类,粗定位光斑干扰区域,将光斑干扰区域作为初始掩膜图像,根据光斑与瑕疵图像的三种覆盖情况,通过图像灰度值变化与其邻近背景区域灰度值变化梯度的特征规律,确定光斑过渡区域与瑕疵区域,通过灰度值与不同尺度的高斯函数卷积加权,提取出图像中的光照分量,获取其光照灰度的分布规律,建立其聚类损失函数,迭代计算出隶属度和簇中心,并使其满足收敛条件,根据确定的区域分布修复光斑区域,保留瑕疵区域,进而达到剔除光斑干扰的目的。该发明可用于汽车电镀装饰件等对表面瑕疵有检测需求的场合。

著录项

  • 公开/公告号CN112927189A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 江苏大学;

    申请/专利号CN202110120681.5

  • 发明设计人 宋寿鹏;刘煌;

    申请日2021-01-28

  • 分类号G06T7/00(20170101);G06T5/00(20060101);G06T7/11(20170101);G06T7/136(20170101);G06T7/66(20170101);G01N21/88(20060101);G01N21/95(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 212013 江苏省镇江市京口区学府路301号

  • 入库时间 2023-06-19 11:19:16

说明书

技术领域

本发明涉及表面缺陷无损检测领域,尤其涉及一种电镀工件表面瑕疵视觉检测中边缘反射光斑的剔除方法。

背景技术

工件通常采用表面处理技术,防止工件表面磨损,提高其美观性、耐蚀性,但工件表面处理技术使工件非常光滑,入射光照射在工件表面上,反射光几乎全部被反射,形成光源反射光斑干扰区域。部分工件加工时,在轮廓边缘处易产生毛刺,采用圆弧形过渡不仅能够去除毛刺,而且可以方便工件的使用,防止边角划伤使用者。但光源照射在倒角结构处,发生反射,易形成反射光斑,通过工业相机对工件进行表面瑕疵检测时,采集到的图像中含有光斑干扰区域,并且干扰区域产生的干扰主要包括光斑误判、光斑完全和部分覆盖瑕疵图像导致的漏检。光斑干扰这个影响因素给后续的瑕疵的识别检出带来很大的难点。

目前在机器视觉图像处理领域中,剔除光源反射光斑干扰区域的方法常采用合理的光源打光方式和设计照射均匀的光源,比如不同角度的照射方式,对表面凹凸表现力强,能够增强表面的瑕疵信息,但是光源在工件表面的轮廓处会产生光斑干扰区域。机器视觉光源的设计需要考虑光源的照射方向、光谱、强度、均匀性等特性,设计不合理影响瑕疵的检出率。部分剔除光源反射光斑干扰的方法不能很好地表现光斑干扰区域边缘纹理信息,并且设计的装置复杂。付方发等人将路面有反光的图像进行RGB三个通道分解并比较,获得灰度值最小的灰度图像与标准阈值比较,确定反光部分,在与滤波后的路面镜面反射图像做差分,获得路面去反光图像,但是获得镜面反射图像的边缘纹理分布不准确(付方发,王瑶,王进祥,石金进,徐伟哲,韩敏.一种用于道路去反光的图像处理方法[P].黑龙江省:CN105678240B,2019-01-18.)。郭剑艇等人设计了一台图像去反光的方法和装置,需要从不同方位拍摄得到的至少两幅图像,其中一幅图像为参考图像,将参考图像和待去除反光的图像的重合图像区域生成估计图像,增加了装置和算法的复杂度(郭剑艇,孙航.图像去反光的方法、装置[P].广东省CN110930323A,2020-03-27.)。

发明内容

本发明针对机器视觉中采集到的图像中电镀工件边缘处含有光源反射光斑干扰区域,干扰区域影响后续的图像处理,影响瑕疵的检出率,提出一种反光工件表面瑕疵视觉检测中,边缘处光源反射光斑对瑕疵检测干扰的剔除方法。该方法根据光斑与瑕疵图像完全分离、部分覆盖或完全覆盖三种情况,通过图像灰度值变化与其邻近背景区域灰度值变化梯度的特征规律,确定光斑过渡区域与瑕疵区域,修复光斑区域,保留瑕疵区域,进而达到剔除光斑干扰的目的。本发明的技术方案如下:

步骤S1、获取工件表面视觉图像;

步骤S2、对工件原始图像提取灰度值,再与不同尺度的高斯函数卷积加权,提取出图像中的光照分量;

步骤S3、获取其光照灰度的分布规律,建立聚类损失函数,迭代计算出隶属度和簇中心,并使其满足收敛条件。然后,将灰度信息进行分类,粗定位光斑干扰区域,然后将光斑干扰区域作为初始掩膜图像;

步骤S4、通过图像灰度值变化与其邻近背景区域灰度值变化梯度的特征规律,根据梯度值与阈值的大小,判断光斑干扰区域是否部分覆盖瑕疵图像或者和瑕疵图像完全分离或完全覆盖;

步骤S41、当光斑干扰区域部分覆盖瑕疵图像,通过图像灰度值变化与其邻近区域灰度值变化梯度的特征规律,确定瑕疵区域,并将其灰度设置为背景图像的平均灰度;

步骤S42、当光斑干扰区域与瑕疵图像完全分离,则进行步骤S5;当光斑干扰区域完全覆盖瑕疵图像,通过工件的移动,使瑕疵远离光斑干扰区域,实现完全分离;

步骤S5、通过边缘像素点与周围n×n区域内其它像素点之间灰度差异,将差异值过大的n×n区域的确定光斑干扰过渡区域,获得完整的掩膜图像;

步骤S6、根据获得完整的掩膜图像,以待修复像素点为中心,选取一个小邻域,以邻域内已知像素值来修复该像素点,从完整的掩膜图像外端边缘向内逐层推进,直到修复完区域内所有像素点;

步骤S7、获得剔除光斑干扰后的图像。

本发明中,上述步骤S1具体为:

采用LED光源以低角度方式照射工件,用工业偏振相机获取被测工件灰度图像,工业偏振相机能减弱工件表面光斑反光强度。

上述步骤S2具体为:

根据获取的工件灰度图像提取其灰度值,并与不同尺度高斯函数卷积加权,得到工件表面任意点(x,y)处灰度图像光照分量L(x,y),即:

公式(1)中,F(x,y)为采集的灰度图像灰度值分布;I为尺度数,I∈Z

上述步骤S3具体为:

根据光照分量L(x,y),建立聚类损失函数J

公式(2)中,N为光照分量L(x,y)内所有像素点的个数;C为簇的数目;u

根据求出的簇中心C

上述步骤S4具体为:

获取光斑干扰区域的边缘坐标与灰度值,根据瑕疵边缘与光源过渡区域之间的梯度M(x,y)确定一个阈值T

通过边缘的灰度值变化与其邻近的背景区域灰度值变化梯度M(x,y)的特征规律,根据光斑干扰区域边缘与背景区域的梯度M(x,y)与阈值T

上述步骤S41具体为:

当光斑干扰区域边缘与背景区域的梯度M(x,y)大于等于阈值T

上述步骤S42具体为:

当光斑干扰区域边缘与背景区域的梯度M(x,y)小于阈值T

所述步骤S5具体为:

根据光照正常区域的背景区域中,在n×n像素区域内,n≥3,且为奇数,(e,f)为n×n像素区域的中心,中心点(e,f)的灰度值F(e,f)与n×n区域内其它像素点灰度值之间偏差H,V,D

根据步骤S41或步骤S42获得的图像,计算边缘所有像素点在n×n区域内其它像素点灰度值之间偏差H,V,D

所述步骤S6具体为:

根据获得完整的掩膜图像,以待修复像素点p为中心,选取一个小邻域B

公式(8)中,权重函数

先修复光斑干扰过渡区域外端边缘的所有像素点,再向内逐层推进,直到修复完区域内所有像素点,得到修复完后的图像,最终实现剔除光斑干扰的目的。

本发明的有益效果是:针对机器视觉中采集到的图像电镀工件边缘处含有光源反射光斑干扰区域,本发明中提出一种剔除光斑干扰的方法。针对光源反射光斑对瑕疵检测产生的干扰主要包括光斑误判、光斑完全和部分覆盖瑕疵图像导致的漏检。本发明可以有效解决这三种干扰造成的影响,提高工件表面瑕疵检测的检出率。

附图说明

图1为本发明流程图;

图2为本发明硬件系统图;

图3为本发明实施例中的电镀件照片;

图4为本发明提取光照分量原理框图;

图5为本发明反射光斑剔除实施例;

其中,(a)为具有光斑干扰区域和瑕疵区域的灰度图像,(b)为提取到的光照分量图像,(c)为确定的完整掩膜图像,(d)为剔除光斑干扰后的结果图。

具体实施方式

以下结合附图和实施例对本发明的技术方案做进一步描述,检测对象是汽车电镀装饰件。需要说明的是,本发明还可以通过其他等效实施方式加以应用,本实施方式所述的一种电镀工件表面瑕疵视觉检测中反射光斑剔除方法,图1为本发明流程图,它包括下述步骤:

如图2-3所示,采用偏振相机削弱工件表面光斑反光强度,LED条形光源以低角度照射方式照射测试工件,并通过大恒图像的MER-502-79U3M POL偏振相机采集图像,图5(a)是通过电镀装饰件表面瑕疵视觉检测系统采集到的具有光斑干扰区域和瑕疵区域的灰度图像。根据获取的工件灰度图像提取其灰度值,并与不同尺度高斯函数卷积加权,得到工件表面任意点(x,y)处灰度图像光照分量L(x,y),计算方法参见公式(1)。本发明实施例中I=3;σ分别采用50,125和250三个尺度;权重系数

根据光照分量L(x,y),建立聚类损失函数J

根据求出的簇中心C

获取光斑干扰区域的边缘坐标与灰度值,根据瑕疵边缘与光源过渡区域之间的梯度M(x,y)确定一个阈值T

当光斑干扰区域边缘与背景区域的梯度M(x,y)大于等于阈值T

当光斑干扰区域边缘与背景区域的梯度M(x,y)小于阈值T

根据光照正常区域的背景区域中,在3×3像素区域内,(e,f)为3×3像素区域的中心,中心点(e,f)的灰度值F(e,f)与3×3区域内其它像素点灰度值之间偏差H,V,D

由公式(9)~(12)分别求出H,V,D

最后,根据获得完整的掩膜图像,以待修复像素点p为中心,选取一个小邻域B

通过掩膜图像外的小领域区域修复边缘上的像素,然后层层向内推进,直到修复完区域内的所有像素点,得到修复完后的图像,最终能够实现剔除光斑干扰的目的。

该发明能够实现剔除图像中光斑干扰区域,并且能够很好地修复其区域。剔除反光后的图像如图5(d)所示。

实施例中的详细说明仅是针对本发明可行性实施方式的具体展示,并非用以限制本发明的保护范围。凡是未脱离本发明技艺精神的等效实施方式或变更均应包含在本发明的保护范围之内。

在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例,本领域的普通技术人员可以理解:在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本发明的范围由权利要求及其等同物限定。

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