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一种空间位置变化前后两次检测波像差残差的计算方法

摘要

本发明公开一种空间位置变化前后两次检测波像差残差的分析方法,计算出加工前后波像差变化量。在被测镜上任意位置作三个标记,加工前后检测波像差,两次检测的波像差上找出三个标记没有数据的区域,计算出中心点的位置坐标,这三个点坐标为标记点位置。加工前后检测的波像差上的三个标记点连成两个三角形,两者的空间位置发生了三种几何变换:旋转、平移和缩放,解出两个三角形的变换矩阵T,根据变换矩阵T,计算出加工后的波像差矩阵变换成跟加工前同样空间位置且同等大小的三维矩阵数据,将其与加工前的波像差相减得到残差,分析这两次检测的波像差变化。解决两次检测波像差由于空间位置改变且采样像素不同不能点对点相减的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN112697398A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-04-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院光电技术研究所;

    申请/专利号CN202011434660.2

  • 发明设计人 罗倩;李志炜;邵俊铭;吴时彬;

    申请日2020-12-10

  • 分类号G01M11/02(20060101);

  • 代理机构11251 北京科迪生专利代理有限责任公司;

  • 代理人杨学明

  • 地址 610209 四川省成都市双流350信箱

  • 入库时间 2023-06-19 10:44:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-09-19

    授权

    发明专利权授予

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