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一种低能质子束的发射度测量仪数据处理方法及其装置

摘要

本发明公开了一种低能质子束的发射度测量仪数据处理方法及其装置,属于粒子加速器技术领域,将发射度测量仪测量的灰度图片进行统计学分析,获得本底噪声,去除本底噪声,寻峰、峰的再处理、中心化,最后计算发射度,解决了根据不同的情况待测束流流强选择最适合方法进行发射度的计算的技术问题,本发明根据当前测量数据的信噪比选择适应的方法进行背景噪声的滤除,极大的提高了滤除效率。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-05-13

    著录事项变更 IPC(主分类):G01T 1/29 专利申请号:2020114841385 变更事项:申请人 变更前:南京大学 变更后:南京大学 变更事项:地址 变更前:210046 江苏省南京市栖霞区仙林大道163号 变更后:210046 江苏省南京市栖霞区仙林大道163号 变更事项:申请人 变更前:南京质子源工程技术研究院有限公司 江苏安德信超导加速器科技有限公司 变更后:南京质子源工程技术研究院有限公司 安德信科技集团有限公司

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