一种MCU芯片电磁兼容测试电路

摘要

本发明公开了一种MCU芯片电磁兼容测试电路，包括测试单元，用于待测MCU芯片U1的测试；所述测试单元包括测试主板，所述测试主板上设有待测MCU芯片的固定安装位，待测MCU芯片安装在待测MCU芯片固定安装位上，测试主板上设有与待测MCU芯片连接的外围电路，测试主板对应待测MCU芯片设有考察距离变量的一体式电磁兼容测试单元；本发明提供一种MCU芯片电磁兼容测试电路，结构设置巧妙且布置合理，本发明中；工作时，通过考察距离变量的电磁兼容测试单元对待测MCU芯片进行不同距离的电磁兼容测试，测试活动待测MCU芯片的电磁兼容性的安全距离，另外本发明设计一体式的电磁兼容测试单元对MCU芯片进行辐射测试和抗干扰测试，提高测试效率。