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公开/公告号CN112629425A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-04-09
原文格式PDF
申请/专利权人 北京卫星环境工程研究所;
申请/专利号CN202011441534.X
发明设计人 唐赖颖;冯伟;易旺民;赵志纲;孟少华;李长勋;隆昌宇;孟凡伟;王临政;杨再华;王伟;张洁;王勇强;
申请日2020-12-11
分类号G01B11/14(20060101);
代理机构11435 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人郭栋梁
地址 100094 北京市海淀区友谊路104号
入库时间 2023-06-19 10:33:45
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-12-02
发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01B11/14 专利申请号:202011441534X 申请公布日:20210409
发明专利申请公布后的驳回
机译: 干涉条纹检查装置,干涉条纹检查方法以及使用干涉条纹的检查方法
机译: 干涉检查装置,干涉检查方法以及具有该干涉检查装置的机床
机译: 干涉检查装置干涉检查方法及具有该干涉检查装置的机床
机译:一种新的非接触式微结构自动检查方法
机译:非接触式超声波探伤检查-非接触式超声波探伤检查对航天器叠层结构的评估
机译:声辐射励磁和激光多普勒振动计(第一部分)土木工程结构的非接触式非破坏性检查方法
机译:非接触式LSI包焊接接头检查方法是一种电光探头
机译:用于增强干涉信号多路复用(ARTEMIS)的阵列技术:一种用于长距离或高数据速率微航天器通信的使能技术。
机译:通过使用基于3×3耦合器的光纤干涉仪检测初始压力的完全非接触式光声显微镜
机译:一种非接触式检查方法,用于确定预应力混凝土铁路枕木中的传递长度
机译:金属基底上非金属涂层的非接触式检查方法