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Interference fringe inspection apparatus, interference fringe inspection method, and inspection method using interference fringes

机译:干涉条纹检查装置,干涉条纹检查方法以及使用干涉条纹的检查方法

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a light source device capable of emitting monochromatic light, for example, monochromatic light close to the emission line spectrum of a low pressure sodium lamp. SOLUTION: It comprises a light source 12 comprising a discharge tube containing mercury, a first optical filter 13 and a second optical filter 14 sequentially arranged in front of the light source, and a light diffusing plate. One optical filter 13 has an optical characteristic that blocks a spectral component in a wavelength range shorter than one peak wavelength of light generated from the light source, and the second optical filter 14 has a peak wavelength of light generated from the light source. The light source device 10 is configured to have an optical characteristic that blocks a spectral component in a longer wavelength range and diffuses light transmitted through the first optical filter 13 and the second optical filter 14 by a light diffusion plate. [Selection] Figure 1
机译:解决的问题:提供一种能够发出单色光的光源装置,例如,接近低压钠灯的发射线光谱的单色光。解决方案:它包括一个光源12和一个光扩散板,该光源12包括一个装有汞的放电管,一个顺序排列在该光源前面的第一光学滤镜13和第二光学滤镜14。一个滤光器13具有在比从光源产生的光的一个峰值波长短的波长范围内遮挡光谱成分的光学特性,第二滤光器14具有从光源产生的光的峰值波长。光源装置10被配置为具有光学特性,该光学特性阻挡较长波长范围内的光谱分量并且通过光扩散板使透射通过第一光学滤波器13和第二光学滤波器14的光扩散。 [选择]图1

著录项

  • 公开/公告号JP6463542B1

    专利类型

  • 公开/公告日2019-02-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社栗原工業;

    申请/专利号JP20180139793

  • 发明设计人 栗原 公郷;

    申请日2018-07-25

  • 分类号G01N21/84;F21S2;F21V9/08;F21V9/20;F21Y101;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 12:17:36

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