首页> 中国专利> 一种多孔陶瓷材料等效折射率测量装置及孔隙率计算方法

一种多孔陶瓷材料等效折射率测量装置及孔隙率计算方法

摘要

本发明公开了一种多孔陶瓷材料等效折射率测量装置及孔隙率计算方法,该装置包括:太赫兹波源、太赫兹透镜、太赫兹探测器和信号采集及处理系统;太赫兹波源用于输出探测用的太赫兹波束;太赫兹透镜用于聚焦太赫兹波束;太赫兹探测器用于探测太赫兹波在不同频率的强度信息;信号采集及处理系统根据所述强度信息计算穿过多孔陶瓷材料后的太赫兹波的频率信息,进而计算得到多孔陶瓷材料的等效折射率;所述方法根据公式:即可测量得到待测量的多孔陶瓷材料孔隙率;本发明能够实现对防隔热的多孔陶瓷材料内部孔隙率的非接触式测量,达到非接触、无损快速测量的效果,便于对多孔陶瓷材料进行定量化评价。

著录项

  • 公开/公告号CN112630119A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-04-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航天计量测试技术研究所;

    申请/专利号CN202011352862.2

  • 申请日2020-11-27

  • 分类号G01N15/08(20060101);G01N21/01(20060101);G01N21/41(20060101);

  • 代理机构11120 北京理工大学专利中心;

  • 代理人梁倩;廖辉

  • 地址 100076 北京市丰台区南大红门路1号

  • 入库时间 2023-06-19 10:33:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-03-10

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N15/08 专利申请号:2020113528622 申请公布日:20210409

    发明专利申请公布后的视为撤回

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