一种判断位错滑移类型的方法

摘要

一种判断滑移类型的方法，具体为：先制备EBSD块状样品，通过EBSD标定晶体取向，并使用不同载荷的维氏硬度压头对EBSD测定的晶粒进行原位压缩；由于压缩变形后该取向晶粒就会发生变形，进而在晶粒的表面形成滑移线；对要测定区域的不同晶粒进行硬度测试，结合压痕的几何应力分析，计算不同滑移开动时的Schmid因子值；然后通过滑移线和三维晶体结构进行对比，结合位错滑移线的传播方向，所计算的不同滑移系的Schmid因子值以及滑移线之间相互交叉的角度，初步判断滑移类型；最后在扫描电镜上，通过倾转扫描样品台，记录不同角度倾转时滑移台阶的宽度变化，结合EBSD测定的晶体取向，获得理论上不同滑移类型的台阶宽度变化，然后与实验结果相对比，综合判断出滑移类型。