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存储器的最佳检测电压获取方法、读取控制方法及装置

摘要

提供最佳检测电压获取方法、读取控制方法及装置。所述最佳检测电压获取方法包括:在多个检测电压下进行多次读操作以获得多个第一差值和多个第二差值,第二差值表示相邻的两个检测电压的差值,第一差值表示阈值电压分别等于第二差值采用的两个检测电压的存储单元数量的差值;采用第一差值除以第二差值,得到多个正切近似值;从多个正切近似值中选出第一正切近似值和第二正切近似值;根据第一正切近似值和第二正切近似值以及与第一正切近似值和第二正切近似值对应的第一检测电压和第二检测电压计算最佳检测电压。本公开实施例得到的最佳检测电压可用于硬判决译码中,能够降低原始比特误码率。

著录项

  • 公开/公告号CN112599176A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-04-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 联芸科技(杭州)有限公司;

    申请/专利号CN202011479904.9

  • 申请日2020-12-15

  • 分类号G11C16/30(20060101);G11C16/04(20060101);

  • 代理机构11449 北京成创同维知识产权代理有限公司;

  • 代理人蔡纯;刘静

  • 地址 310051 浙江省杭州市滨江区阡陌路459号聚光中心C1座6楼

  • 入库时间 2023-06-19 10:27:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-08-02

    著录事项变更 IPC(主分类):G11C16/30 专利申请号:2020114799049 变更事项:申请人 变更前:联芸科技(杭州)有限公司 变更后:联芸科技(杭州)股份有限公司 变更事项:地址 变更前:310051 浙江省杭州市滨江区阡陌路459号聚光中心C1座6楼 变更后:310051 浙江省杭州市滨江区西兴街道阡陌路459号C楼C1-604室

    著录事项变更

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