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等离子体处理装置中实现气体流量验证的系统及方法

摘要

本发明提供一种等离子体处理装置中实现气体流量验证的系统及方法,在气盒中安装有集成流量验证系统;在对质量流量控制器的校准或验证时,气体不经过反应腔体,而是通过集成流量验证系统的罐体,从而简化容积和温度的测算,并且不受反应腔体温度、刻蚀工艺、材料吸附性等不稳定因素的影响,提高重复度和稳定性,节约时间。集成流量验证系统包含多个不同容积的罐体时,可以相应地为不同流量大小的MFC进行校准和验证,结果更为准确。

著录项

  • 公开/公告号CN112563105A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-03-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中微半导体设备(上海)股份有限公司;

    申请/专利号CN201911411272.X

  • 申请日2019-12-31

  • 分类号H01J37/244(20060101);H01J37/32(20060101);G01F1/00(20060101);G01F1/34(20060101);G01K13/00(20210101);G01L9/12(20060101);

  • 代理机构31323 上海元好知识产权代理有限公司;

  • 代理人包姝晴;张静洁

  • 地址 201201 上海市浦东新区金桥出口加工区(南区)泰华路188号

  • 入库时间 2023-06-19 10:24:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-11-03

    授权

    发明专利权授予

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