首页> 中国专利> 大型圆柱形相控阵天线等效远场测试装置和方法

大型圆柱形相控阵天线等效远场测试装置和方法

摘要

本发明提供了一种大型圆柱形相控阵天线等效远场测试装置和方法,该装置包括:微波暗室,用于提供内部无电磁信号反射,且不受外部电磁信号干扰的电磁波自由传播空间;转台,用于调整被测圆柱形相控阵天线的姿态,以测量被测圆柱形相控阵天线在不同方位上的辐射特性;信号发射模块,用于生成天线测试用的激励信号;控制单元,用于控制信号发射模块的激励信号以及转台的旋转角度,并对被测圆柱形相控阵天线在不同方位上的辐射特性进行采集和处理。本发明适用于大型圆柱形相控阵天线的测试,能够有效节约测试系统的建设成本,适应性强,测试结果更加准确。

著录项

  • 公开/公告号CN112505435A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-03-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海航天电子通讯设备研究所;

    申请/专利号CN202011433006.X

  • 申请日2020-12-09

  • 分类号G01R29/10(20060101);

  • 代理机构31236 上海汉声知识产权代理有限公司;

  • 代理人胡晶

  • 地址 201109 上海市闵行区中春路1777号

  • 入库时间 2023-06-19 10:16:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-02-24

    授权

    发明专利权授予

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号