一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试流水线设备

摘要

本发明涉及一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试流水线设备。该设备包括：第一工控机控制第一机械手臂抓取全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机中的器件测试盘，放置在传送轨道上，由传送轨道传送至全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机；第二工控器控制第二机械手臂抓取传送轨道上的器件测试盘，放置在全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机的自动测试柜中测试器件测试盘的待测试器件；测试完毕后，第二工控机和第二机械手机取出自动测试柜的几千测试盘，放置在常熟轨道上，由传送轨道传送至全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机，由第三控制器和第三机械手将器件测试盘内的测试器件取出分类。本发明能够提高测试效率，减免人工成本。