公开/公告号CN112444212A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-03-05
原文格式PDF
申请/专利权人 北京微链道爱科技有限公司;
申请/专利号CN202011495351.6
申请日2020-12-17
分类号G01B11/25(20060101);G06T5/00(20060101);
代理机构11616 北京盛凡智荣知识产权代理有限公司;
代理人王光建
地址 102300 北京市门头沟区石龙经济开发区永安路20号3号楼A-6099室
入库时间 2023-06-19 10:06:57
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-08-02
授权
发明专利权授予
机译: 光三维形状测量装置的空间测量误差检查装置,检测空间测量误差的方法,校正方法,光学三维形状测量装置,光学三维形状测量装置的空间测量误差校准方法,以及平面标准 光学三维形状测量装置的光学性能检查
机译: 补偿色差的方法,使用相同方法测量3D形状的方法和装置,能够补偿由基质和基质形成的测量对象之间的色差引起的色差
机译: 在坐标测量机中补偿由于热引起的结构变形引起的测量误差的方法