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聚合物主链中包含杂原子的抗蚀剂下层膜形成用组合物

摘要

本发明提供具有特别高的干蚀刻速度的抗蚀剂下层膜、该抗蚀剂下层膜形成用组合物、抗蚀剂图案形成方法以及半导体装置的制造方法。一种抗蚀剂下层膜形成用组合物,其包含:环氧加成物形成用化合物与下述式(1)所示的化合物的环氧加成生成物;以及溶剂,[在式(1)中,A1表示至少1个氢原子可以被卤原子取代、并且被氧原子、硫原子、二硫基、磺酰基、羰基或亚氨基中断的碳原子数2~10的直链或支链亚烷基]。

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  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-05-24

    发明专利申请公布后的撤回 IPC(主分类):G03F 7/11 专利申请号:2019800483309 申请公布日:20210302

    发明专利申请公布后的撤回

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