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用于全偏振态测量的透射式数字全息显微术试验方法

摘要

本发明公开了用于全偏振态测量的透射式数字全息显微术试验方法,涉及数字全息显微术技术领域。该用于全偏振态测量的透射式数字全息显微术试验方法包括以下步骤:启动待测光源并记录光束波长记为δ基准、记录光束波长记为δ1、记录光束波长记为δ2、求得光源透射式的全偏振态测量γ,其中该用于全偏振态测量的透射式数字全息显微术试验方法能够通过对数字全息显微术的方式对光波的全偏振态测量进行多方位的测量,方便人们对不同光波在不同场合下的全偏振态的数值进行较为准确的测量,并且光波的全偏振态测量的误差更低,有效的解决了全偏振态测量效率低的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN112414298A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-02-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 衡阳市智谷科技发展有限公司;

    申请/专利号CN202011165467.3

  • 发明设计人 张春熹;王峥;杨艳强;王心;

    申请日2020-10-27

  • 分类号G01B9/02(20060101);G01J4/00(20060101);

  • 代理机构44504 深圳市兰锋盛世知识产权代理有限公司;

  • 代理人罗炳锋

  • 地址 421000 湖南省衡阳市雁峰区岳屏镇东湖村十二组衡山科学城红树林研发创新区B3栋

  • 入库时间 2023-06-19 10:02:03

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-10-18

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01B 9/02 专利申请号:2020111654673 申请公布日:20210226

    发明专利申请公布后的视为撤回

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