一种用于光纤宏弯损耗测试的绕纤辅助工装及应用方法

摘要

本发明提供一种用于光纤宏弯损耗测试的绕纤辅助工装，包括底盘、光纤引导组件、绕纤组件和光纤夹持部件；绕纤组件包括若干个直径不同的绕纤圆轴，绕纤圆轴垂直安装在底盘上；每个光纤夹持部件对应一个绕纤圆轴；光纤夹持部件包括安装轴、夹持压杆和海绵条，海绵条可在夹持压杆的带动下朝向绕纤圆轴旋转，与绕纤圆轴紧密接触；光纤通过光纤引导组件引入装置内，通过不同直径的绕纤圆轴环绕形成不同直径的光纤圈，光纤夹持部件对缠绕的光纤圈产生夹持作用；本发明还提供上述装置的应用方法。本发明能快速完成各类光纤的绕圈工作，体积小巧，可固定在多种测试仪器上使用，有效提高光纤宏弯损耗测试的测试效率，并提高测试结果的稳定性。

说明书

技术领域

本发明属于光纤性能检测技术领域，具体涉及一种用于光纤宏弯损耗测试的绕纤辅助工装及应用方法。

背景技术

光纤的宏弯损耗是光纤性能的一项重要测试项目，尤其是弯曲不敏感单模光纤（G.657）系列对宏弯性能的测试要求更为严格。在测量单模光纤的宏弯损耗时，需要根据要求将光纤绕成一定直径的圈，通过测量光纤弯曲与未弯曲状态下损耗变化来测定光纤的宏弯损耗。目前使用的辅助工具大多是单一的绕圈圆柱或集成式辅助工装，单一的绕圈圆柱需要根据光纤的种类在测试过程中频繁更换多个不同半径的绕圈圆柱，使用较为繁琐，且绕圈方式为手工绕圈，由于光纤在绕圈后由于自身弯曲应力会被弹开，所以需要用手或其他重物固定光纤，造成光纤测试的不稳定性，影响光纤测试结果的准确性。而集成式辅助工装大多因为体型较大且重量较重的缘故，在使用过程中也存在诸多不便，影响测试工作的效率。

基于此，本发明提供一种便捷高效的、体积小巧的用于光纤宏弯损耗测试的绕纤辅助工装及应用方法，能快速完成各类光纤的绕圈工作，可固定在多种测试仪器上使用，有效提高光纤宏弯损耗测试的测试效率，并提高测试结果的稳定性。

发明内容

本发明的目的是针对现有技术的不足，提供一种用于光纤宏弯损耗测试的绕纤辅助工装及应用方法，以解决光纤宏弯损耗测试工作效率低，绕纤工作繁琐，测试结果易受外部因数影响等问题。

本发明采用以下技术方案：

一种用于光纤宏弯损耗测试的绕纤辅助工装，包括底盘、光纤引导组件、绕纤组件和光纤夹持部件，光纤引导组件、绕纤组件和光纤夹持部件均设置在底盘上；所述绕纤组件包括若干个直径不同的绕纤圆轴，绕纤圆轴垂直安装在底盘上；所述光纤夹持部件设计数量与绕纤圆轴一致，每个光纤夹持部件对应一个绕纤圆轴；光纤一端通过光纤引导组件引入装置内，通过不同直径的绕纤圆轴环绕形成不同直径的光纤圈，并通过光纤引导组件引出装置，光纤夹持部件对缠绕的光纤圈产生夹持作用。

进一步的，所述绕纤圆轴固定安装有连接杆，绕纤圆轴通过连接杆安装在底盘上；所述底盘上设置有若干个平行设置的条形通孔，连接杆穿过条形通孔，并可在条形通孔内滑动；所述连接杆通过固定件与底盘可拆卸固定连接。

进一步的，所述固定件为螺母，连接杆上设置有螺纹，所述连接杆与底盘螺纹连接。

进一步的，所述光纤夹持部件包括安装轴、夹持压杆和海绵条；所述安装轴固定设置在底盘上，所述夹持压杆与安装轴可转动连接，海绵条固定在夹持压杆上，海绵条可在夹持压杆的带动下朝向绕纤圆轴旋转，与绕纤圆轴紧密接触，起到夹持的作用。

进一步的，所述海绵条长度与绕纤圆轴的长度一致，均为80mm。

进一步的，所述光纤引导组件包括光纤引入件和光纤引出件，所述光纤引入件和光纤引出件分别设置在绕纤组件两侧，实现光纤导入、导出的作用。

进一步的，所述光纤引入件和光纤引出件为长方体的海绵块，所述海绵块上设置有供光纤通过的裂缝。

进一步的，所述裂缝的位置与光纤夹持部件和绕纤圆轴接触的位置对应。

进一步的，本装置底盘上还设置有条形安装槽，所述光纤引入件和光纤引出件分别通过条形安装槽固定在底盘上。

进一步的，所述光纤引入件和光纤引出件在底盘上的高度与绕纤圆轴的高度一致。

本发明还提供上述用于光纤宏弯损耗测试的绕纤辅助工装的应用方法，包括以下步骤：

S1、根据光纤种类选择若干个不同半径的绕纤圆轴，按要求安装在底盘上，使光纤引导组件的裂缝、绕纤圆轴和光纤夹持部件贴合的间隙均在同一直线上，随后可开始测试工作；

S2、将需要测试的光纤，一端穿过光纤引入件的裂缝后，将光纤绕在一个绕纤圆轴上后稍微拉紧光纤，用对应的夹持压杆夹持住光纤，然后将光纤穿过另一端的光纤引出件的裂缝，开始对光纤在弯曲状态下的功率进行测试；

S3、待测试仪器测试完光纤在弯曲状态下的功率后，松开夹持压杆3，取下绕纤圆轴上的光纤，整理光纤至无弯曲状态，随后测试光纤在未弯曲状态下的功率，在对比两次测试功率后得出该段光纤的宏弯损耗；

S4、重复步骤S2和S3，按照所需的测试要求以不同绕圈圈数完成不同半径光纤的宏弯损耗测试。

本发明的有益效果：

（1）本发明采用的集成式底盘能够将测试过程中需要使用的不同半径的绕纤组件集成到同一装置上，免去了现有测试过程中，特别是测试G.657单模光纤时需要频繁更换绕纤圆柱的步骤，提高了测试的工作效率；

（2）本发明底盘上设置多道条形通孔，可一次安装多种绕纤组件，可根据测试的需要，任意组合不同尺寸的绕纤组件，可满足各类光纤的测试需要；

（3）本发明绕纤组件直立设置在底盘上，让绕线步骤变得更为方便，而绕纤组件对应的夹持压杆对缠绕的光纤起到稳固作用，防止光纤被自身弯曲产生的应力弹开，保证了测试状态的稳定；

（4）本发明所设置的光纤引导组件、光纤夹持部件均使用了海绵材料，能够有效降低光纤在测试过程中受到的外部应力，保护光纤涂层不受损伤；

（5）本发明装置体积小巧轻便，方便携带，能够满足在多种环境下使用的要求；本装置设计合理，结构简单，操作方便，具有很强的实用性和广泛的适用性。

附图说明：

图1为本发明实施例俯视图；

图2为本发明实施例侧视图；

图3为本发明实施例底盘结构示意图；

图4为本发明实施例绕纤圆轴与底盘安装示意图；

图5为本发明实施例光纤夹持部件结构示意图；

图6为本发明实施例绕纤状态示意图；

附图中的标记为：1、底盘；2、光纤引导组件；2-1、光纤引入件；2-2、光纤引出件；3、夹持压杆；4、绕纤圆轴；5、条形通孔；6、连接杆；7、安装轴；8、海绵条；9、固定件。

具体实施方式：

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

参见图1~6，本发明实施例提供一种用于光纤宏弯损耗测试的绕纤辅助工装，包括底盘1、光纤引导组件2、绕纤组件和光纤夹持部件，光纤引导组件2、绕纤组件和光纤夹持部件均设置在底盘1上；所述绕纤组件包括四个直径不同的绕纤圆轴4，绕纤圆轴4垂直安装在底盘1上；所述光纤夹持部件设计数量与绕纤圆轴4一致，同为四组，每个光纤夹持部件对应一个绕纤圆轴4；光纤一端通过光纤引导组件2引入装置内，通过不同直径的绕纤圆轴4环绕形成不同直径的光纤圈，并通过光纤引导组件2引出装置，光纤夹持部件对缠绕的光纤圈产生夹持作用。

本发明实施例中，所述绕纤圆轴4固定安装有连接杆6，连接杆外径尺寸为5mm，绕纤圆轴4通过连接杆6安装在底盘1上；所述底盘1上设置有四个平行设置的条形通孔5，条形通孔5尺寸为5mm*70mm，沿底盘1长度方向每隔40mm平行等距排列。连接杆6穿过条形通孔5，并可在条形通孔5内滑动；所述连接杆6通过固定件9与底盘1可拆卸固定连接；具体的，所述固定件9为螺母，连接杆6下端设置有螺纹，连接杆6穿过底盘条形通孔5，用螺9从底盘1底部进行固定。固定在条形通孔5上的绕纤组件，可通过松动螺母后滑动连接杆6来调节位置。

本实施例中，所述光纤夹持部件包括安装轴7、夹持压杆3和海绵条8；所述安装轴7固定设置在底盘1上，与四道条形通孔5一一对应，安装轴7与对应的条形通孔5距离为15mm；所述夹持压杆3与安装轴7可转动连接，每个夹持压杆3对应一个绕纤圆轴4，海绵条8固定在夹持压杆3上，海绵条8可在夹持压杆3的带动下朝向绕纤圆轴4旋转，与绕纤圆轴4紧密接触，起到夹持的作用；所述海绵条8长度与绕纤圆轴4的长度一致，均为80mm；海绵条8厚度为10mm，宽为10mm。

本实施例中，所述光纤引导组件2包括光纤引入件2-1和光纤引出件2-2，所述光纤引入件2-1和光纤引出件2-2分别设置在绕纤组件两侧，实现光纤导入、导出的作用；具体的，所述光纤引入件2-1和光纤引出件2-2为长方体的海绵块，所述海绵块上设置有供光纤通过的裂缝，裂缝的位置与光纤夹持部件和绕纤圆轴4接触的位置对应，裂缝宽度小于0.5mm，光纤引导部件的裂缝、绕纤组件和夹持压杆贴合的间隙均在同一直线上。

本实施例中，底盘1上还设置有两个条形安装槽，分别位于底盘1两端边缘，所述条形安装槽与其相邻的条形通孔5距离为25mm，所述光纤引入件2-1和光纤引出件2-2分别通过条形安装槽固定在底盘1上；光纤引入件2-1和光纤引出件2-2在底盘1上的高度与绕纤圆轴4的高度一致。

本发明的应用方法：

S1、根据光纤种类选择相应半径的绕纤圆轴4，本实施例选用半径7.5mm、半径10mm、半径15mm三根绕纤圆轴4，按要求安装在工装底盘1上，使光纤引导组件的裂缝、绕纤组件和夹持部件3贴合的间隙均在同一直线上，然后便可开始测试工作；

S2、将需要测试的光纤，一端穿过光纤引入件2-1的裂缝后，将光纤绕在半径7.5mm的绕纤圆轴4上后稍微拉紧光纤，用对应的夹持压杆3夹持住光纤，然后将光纤穿过另一端的光纤引出件2-2的裂缝，开始对光纤在弯曲状态下的功率进行测试；

S3、待测试仪器测试完光纤在弯曲状态下的功率后，松开夹持压杆3，取下绕纤圆轴4上的光纤，整理光纤至无弯曲状态，随后测试光纤在未弯曲状态下的功率，在对比两次测试功率后得出该段光纤的宏弯损耗；

S4、重复步骤S2和S3，按照所需的测试要求以不同绕圈圈数完成半径10mm、半径15mm尺寸的宏弯损耗测试。

以上仅是本发明的优选实施方式，本发明的保护范围并不仅局限于上述实施例，凡属于本发明思路下的技术方案均属于本发明的保护范围，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理前提下的若干改进和润饰，应视为本发明的保护范围。