光纤宏弯损耗测试方法比较

摘要

本文介绍光纤宏弯损耗测试国家标准要求测试方法与实际工作中的测试方法的比较光纤宏弯损耗测试，在国家标准GB/T9771.3-2008中描述:光纤以30m。半径松绕100圈，在1625nm测得的宏弯损耗应不超过0. 1dB，其中注2中又描述:为了保证弯曲损耗易于测量和测量准确度，可用1圈或几圈小半径环光纤代替100圈光纤进行试验，在此情况下，绕的圈数环的半径和最大允许的弯曲损耗都应该选的与30mm半径100圈试验的损耗值相适应。当光纤弯曲时，会造成光纤的辐射损耗。光在弯曲部分中进行传输，当光纤受到半径很大的弯曲时，弯曲半径与其纤芯直径具有可比性时，它的传输特性会发生变化。大量的传导模被转化成辐射模，不再继续传输，而是进入包层被涂覆层或包层吸收，从而引起光纤的附加损耗。光纤的弯曲损耗有宏弯损耗和微弯损耗两种类型，宏弯损耗是由弯曲半径比光纤直径大的多的弯曲引起的附加损耗，主要原因有:敷设中的弯曲，接头盒中光纤的盘留，机房及设备内尾纤的盘绕等;微弯损耗是由光纤轴产生微米级的弯曲引起的附加损耗，主要原因有:纤芯与包层的分界面不光滑形成的微弯;光纤受到的侧压力不均匀而形成的微弯;光纤遇到温度变化，因热胀冷缩形成的微弯。文章选取7个不同光纤厂家生产的G. 652D光纤和宏弯损耗不合格光纤样本分别采用。60mm*100圈和32mm*1圈两种测试方法，测试1550nm和1625nm两个波长的宏弯损耗值，比较两种方法的测试结果，为排除测试人员绕圈造成的误差，整个测试过程由同一个测试人员完成。