首页> 中国专利> 一种基于样本过采样的稀疏表示高光谱图像目标检测方法

一种基于样本过采样的稀疏表示高光谱图像目标检测方法

摘要

本发明提供一种基于样本过采样的稀疏表示高光谱图像目标检测方法,方法包括:首先从待检测的高光谱图像上选择目标训练样本和背景训练样本;然后利用合成少数类的过采样技术生成新的目标训练样本,扩充目标训练样本的数量从而平衡目标和背景训练样本之间的数量;然后构建稀疏表示模型并计算稀疏向量重构残差,计算目标检测统计值;最后根据目标检测统计值,实现目标检测。本发明的有益效果是:针对目前稀疏表示在高光谱图像目标探测领域应用时,在字典构造过程中,目标训练样本与背景训练样本不平衡的问题,本发明利用合成少数类样本技术进行目标训练样本扩充,解决样本数量不平衡的问题,能够更为精确地恢复测试像元的稀疏表示向量,使得目标检测效果得到了进一步提升。

著录项

  • 公开/公告号CN112365490A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-02-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 重庆邮电大学;

    申请/专利号CN202011335905.6

  • 发明设计人 陶洋;林飞鹏;杨雯;翁善;

    申请日2020-11-25

  • 分类号G06T7/00(20170101);G06T7/194(20170101);G06K9/62(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 400065 重庆市南岸区崇文路2号

  • 入库时间 2023-06-19 09:54:18

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-03-17

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G06T 7/00 专利申请号:2020113359056 申请公布日:20210212

    发明专利申请公布后的视为撤回

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号