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用于测量微粒物质的装置和方法

摘要

提供了一种用于测量微粒物质的装置,该装置包括:图像获取设备,被配置为使引入到图像获取设备的空气中所包括的微粒物质粒子带电,并且基于无透镜成像来获取带电的微粒物质粒子的图像;光谱获取设备,被配置为获取带电的微粒物质粒子的拉曼光谱;以及处理器,被配置为基于所获取的图像来确定微粒物质粒子的大小和微粒物质粒子的浓度,并且基于所获取的拉曼光谱来确定微粒物质粒子的成分。

著录项

  • 公开/公告号CN112326515A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-02-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三星电子株式会社;

    申请/专利号CN202010240300.2

  • 发明设计人 李右昶;朴润相;张浩埈;南圣炫;

    申请日2020-03-30

  • 分类号G01N15/02(20060101);G01N15/06(20060101);G01N21/65(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人吴晓兵

  • 地址 韩国京畿道

  • 入库时间 2023-06-19 09:47:53

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-06-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N15/02 专利申请号:2020102403002 申请日:20200330

    实质审查的生效

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