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用于测量微粒物质的装置和方法

摘要

提供一种用于测量微粒物质的装置,该装置包括:空气流入设备,被配置为接收包括微粒物质粒子的空气;两个或更多个光源,被配置为分别向接收到的空气发射不同波长的光;图案测量设备,被配置为基于检测由所述微粒物质粒子向前散射的光和由所述微粒物质粒子向后散射的光,来测量针对光的每个波长的散射图案;以及处理器,被配置为基于针对光的每个波长的所述散射图案来获得所述微粒物质粒子的大小和所述微粒物质粒子的浓度。

著录项

  • 公开/公告号CN112284986A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三星电子株式会社;

    申请/专利号CN202010701755.X

  • 发明设计人 张浩埈;朴润相;李右昶;

    申请日2020-07-20

  • 分类号G01N15/02(20060101);G01N15/06(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人吴晓兵

  • 地址 韩国京畿道

  • 入库时间 2023-06-19 09:41:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N15/02 专利申请号:202010701755X 申请日:20200720

    实质审查的生效

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