首页> 中国专利> 光学量测系统和量测从微型组件所发出的光的方法

光学量测系统和量测从微型组件所发出的光的方法

摘要

一种光学量测系统,包含光纤和光侦测部件。光纤具有第一端、第二端和内腔,第二端在第一端的对侧,内腔从第一端凹入并用以容置微型组件。光侦测部件连接至光纤的第二端,用以接收从光纤的第一端所传来的光。本发明所提出的改进的光学量测系统和一种量测从微型组件所发出的光的方法可相对于传统光纤增加信号噪声比。

著录项

  • 公开/公告号CN112212972A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 美科米尚技术有限公司;

    申请/专利号CN201911006914.8

  • 发明设计人 陈立宜;

    申请日2019-10-22

  • 分类号G01J1/42(20060101);

  • 代理机构11019 北京中原华和知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人寿宁;张琳

  • 地址 萨摩亚阿庇亚市邮政信箱603号珩泰大楼

  • 入库时间 2023-06-19 09:30:39

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-03-24

    发明专利申请公布后的撤回 IPC(主分类):G01J 1/42 专利申请号:2019110069148 申请公布日:20210112

    发明专利申请公布后的撤回

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号