一种基于标准边界扫描电路的SIP器件测试系统

摘要

本发明提供一种基于标准边界扫描电路的SIP器件，用于测试集成电路管芯，其特征在于，第二复用器连接第一测试访问端口控制器以及第一复用器，第三复用器连接第二复用器，第一数据寄存器连接第一测试访问端口控制器、第一测试数据输入以及第三复用器，第一指令寄存器连接第一测试数据输入、第一测试访问端口控制器、以及第二复用器，第一测试访问端口控制器用于响应第一指令寄存器，其中第一测试数据输入将多个第一指令值其中之一传送至第一指令寄存器，传送第一指令值至第一指令译码器，并对应第一数据寄存器，测试模式端口连接第一数据寄存器以及第一复用器，经由测试模式端口决定是否将第一数据寄存器接入旁路。