公开/公告号CN112106168A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-12-18
原文格式PDF
申请/专利权人 株式会社日立高新技术;
申请/专利号CN201880093423.9
申请日2018-05-22
分类号H01J37/153(20060101);H01J37/145(20060101);H01J37/244(20060101);
代理机构11243 北京银龙知识产权代理有限公司;
代理人金成哲;王莉莉
地址 日本东京都
入库时间 2023-06-19 09:13:40
机译: 带电粒子束装置及带电粒子束装置的检测器位置调整方法
机译: 用于校正带电粒子束的照射位置的程序,用于校正带电粒子束的照射位置的装置,带电粒子束的照射系统以及用于校正带电粒子束的照射位置的方法
机译: 带电粒子束系统,用于在带电粒子束装置中自动搜索焦点位置的测距范围的方法,以及用于使计算机系统确定用于自动搜索带电粒子束装置中的焦点位置的范围的非暂时性存储介质记录程序