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带电粒子束装置及带电粒子束装置的检测器位置调整方法

摘要

本发明是一种具备减速光学系统的带电粒子束装置,通过抑制由物镜‑试样间的构造物引起的减速电场的变化和轴偏离,能够降低对照射系统、检测系统造成的不良影响。带电粒子束装置具有:电子源(2);使来自电子源的探测电子束聚焦于试样(12)的物镜(4);使探测电子束加速的加速电极(3);设于加速电极内的第一检测器(6);在与加速电极之间形成针对探测电子束的减速电场并且探测电子束在其开口通过的减速电极(5);以及插入减速电极与试样之间的第二检测器(7),第二检测器具有比减速电极的开口大的开口部(9),并在开口部的周围设有敏感面(8)。

著录项

  • 公开/公告号CN112106168A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社日立高新技术;

    申请/专利号CN201880093423.9

  • 发明设计人 今井悠太;笹岛正弘;高鉾良浩;

    申请日2018-05-22

  • 分类号H01J37/153(20060101);H01J37/145(20060101);H01J37/244(20060101);

  • 代理机构11243 北京银龙知识产权代理有限公司;

  • 代理人金成哲;王莉莉

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2023-06-19 09:13:40

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