超大电流开尔文测试探针

摘要

本发明公开了一种超大电流开尔文测试探针，包括平行设置的第一探针本体和第二探针本体，所述第一接触芯片引脚和第二接触芯片引脚经由头部套筒贯穿伸出；所述第一探针本体和第二探针本体的中部套接有中部套筒，所述第一探针本体和第二探针本体上套接有位于中部套筒上方的弹簧；所述第一探针本体和第二探针本体下端均套接有尾部套筒，所述尾部套筒的上端紧贴着中部套筒的下端。本发明可实现第一接触芯片引脚和第二接触芯片引脚与芯片为弹性接触，从而保护芯片不至于损坏芯片。确保第一接触芯片引脚和第二接触芯片引脚能准确地接触芯片。解决开尔文测试过程中的大电流问题和精密电阻测量。