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磁随机存取存储器(MRAM)中的磁攻击检测

摘要

一种集成电路包括具有多个MRAM单元的磁阻RAM(MRAM)阵列以及一组至少一个霍尔传感器电路,所述组中的每个霍尔传感器电路包括用于检测磁场的霍尔传感器。所述集成电路还包括磁处理电路系统,所述磁处理电路系统用于接收来自所述组至少一个霍尔传感器电路的至少一个指示。所述磁处理电路系统包括用于基于来自所述组的所述至少一个指示提供对所述MRAM阵列的可能磁场威胁的指示的输出。

著录项

  • 公开/公告号CN112017711A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 恩智浦美国有限公司;

    申请/专利号CN202010433315.0

  • 申请日2020-05-20

  • 分类号G11C11/16(20060101);G11C11/18(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人吴晓兵

  • 地址 美国德克萨斯州

  • 入库时间 2023-06-19 09:04:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-06-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G11C11/16 专利申请号:2020104333150 申请日:20200520

    实质审查的生效

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