首页> 中国专利> 液晶显示器响应时间的量测系统及其量测方法

液晶显示器响应时间的量测系统及其量测方法

摘要

本申请公开了一种液晶显示器响应时间的量测系统及其量测方法,所述方法包括:获取基准温度下的所述液晶显示器的基准响应时间以及液晶参数组的基准数值;获取第一温度下所述液晶参数组的第一数值;以及将所述基准响应时间、所述基准数值以及所述第一数值代入量测公式,以得出所述第一温度下所述液晶显示器的第一响应时间;相比于现有技术,本申请可以快速且准确的量测不同温度下的液晶显示器的响应时间,不再受限于温度对量测设备的影响,提高了液晶显示器响应时间量测的适用性和便捷性。

著录项

  • 公开/公告号CN111965860A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TCL华星光电技术有限公司;

    申请/专利号CN202010804314.2

  • 发明设计人 海博;

    申请日2020-08-12

  • 分类号G02F1/13(20060101);

  • 代理机构44570 深圳紫藤知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘泳麟

  • 地址 518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号

  • 入库时间 2023-06-19 08:58:14

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号