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一种用于光谱分析的偏振调制光谱测试装置与测试方法

摘要

本发明公开了一种用于光谱分析的偏振调制光谱测试装置与测试方法,其中测试装置,包括漫反射光谱采集系统,还包括反射光谱测试附件、偏振角调制附件和偏振度调制附件;所述反射光谱测试附件包括样品台底座、样品台旋转底座、入射光方位角调节支杆、反射光方位角调节支杆、入射光天顶角调节旋钮及反射光天顶角调节旋钮。本发明提出三种偏振调制光谱测试附件,可实现偏振角调制光谱、反射率线偏振度光谱和反射率偏振度光谱测试系统的快速搭建,降低了偏振调制采集系统的成本和装置复杂度。

著录项

  • 公开/公告号CN111948156A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202010762927.4

  • 申请日2020-07-31

  • 分类号G01N21/31(20060101);G01N21/01(20060101);G01N21/55(20140101);

  • 代理机构11340 北京天奇智新知识产权代理有限公司;

  • 代理人陈岚崴

  • 地址 266000 山东省青岛市黄岛区香江路98号

  • 入库时间 2023-06-19 08:56:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-04-07

    授权

    发明专利权授予

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