粒度分布测定装置和粒度分布测定方法

摘要

本发明提供粒度分布测定装置和粒度分布测定方法，其能够高精度地测定包含粗粒和附着于粗粒的附着粉的原料的粒度分布。粒度分布测定装置(1)具备：粗粒测定装置(2)，获取表示粗粒的粒度分布的信息；附着粉测定装置(3)，获取表示附着粉的粒度分布的信息；运算装置(4)，计算原料(13)的粒度分布。运算装置(4)具备：粗粒粒度分布计算部(43)，基于粗粒测定装置(2)获取的表示粗粒的粒度分布的信息计算粗粒的粒度分布；附着粉粒度分布计算部(44)，基于附着粉测定装置(3)获取的表示附着粉的粒度分布的信息计算附着粉的粒度分布；原料粒度分布计算部(45)，基于粗粒粒度分布计算部(43)计算的粗粒的粒度分布和附着粉粒度分布计算部(44)计算的附着粉的粒度分布计算原料(13)的粒度分布。