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粒度分布测定装置

摘要

本发明提供一种粒度分布测定装置,可以使测定条件的评价变得容易,该测定条件的评价用于对各个试样设定最佳的测定条件。所述粒度分布测定装置包括:装置主体,进行试样的粒度分布测定;以及界面设备,接收来自操作员的输入并对装置主体进行驱动控制,并且接收来自装置主体的测定结果并进行显示,界面设备用图表示用于进行粒度分布测定所应该设定的操作参数的值与对应于操作参数的各值的、利用装置主体的测定结果得到的评价参数的值的关系。

著录项

  • 公开/公告号CN102192868B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-09-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社堀场制作所;

    申请/专利号CN201110035781.4

  • 发明设计人 菅澤央昌;

    申请日2011-02-10

  • 分类号

  • 代理机构北京信慧永光知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人李雪春

  • 地址 日本京都府

  • 入库时间 2022-08-23 09:29:57

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-09-30

    授权

    授权

  • 2012-12-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N15/02 申请日:20110210

    实质审查的生效

  • 2011-09-21

    公开

    公开

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