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相位偏折术光电成像质量评价方法

摘要

本发明涉及一种相位偏折术光电成像质量评价方法,利用相位偏折系统中的投影装置向标准被测物投射检测时使用的正弦条纹图像,然后相机拍摄带有投影条纹的标准被测物图像,然后将标准被测物图像经过算法处理,得到成像质量的得分,得分越高,成像质量越高,最终实际被测物的检测效果越好。本发明避免了光电系统搭建返工,减小了检测问题定位的维度,减少量相位偏折系统调试的耗时;在光电系统搭建的阶段,就通过成像质量评价标准来调节光电系统,直到成像质量符合标准,此时成像质量就有了保障,这样不仅使光电系统在搭建阶段就达到理想状态,且在后面检测阶段的问题(检测结果不理想)定位方面排除了成像质量的因素。

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