声明
第一章 绪 论
1.1 研究工作的背景与意义
1.2 国内外研究现状
1.3 本文的主要创新与结构安排
第二章 基于结构光调制度分析技术的镜面及透明物体检测
2.1 调制度辅助的相位测量偏折术基本原理
2.2 调制度检测及均匀平面光检测的数学模型
2.3 光源改变对模型输出的影响
2.4 实验验证
2.5 本章小结
第三章 结构光调制度分析技术的数学模型改进研究
3.1 原有模型的应用局限
3.2 改进的调制度检测的数学模型
3.3 基于改进模型的仿真
3.4 实验验证
3.5 本章小结
第四章 基于灰度值校正的调制度快速检测
4.1 误差分析
4.2 非线性误差的灰度值补偿算法
4.3 算法实践及结果对比
4.4 光学元件快速检测
4.5 本章小结
第五章 全文总结与展望
5.1 全文总结
5.2 后续工作展望
致谢
参考文献
攻读硕士学位期间取得的成果
电子科技大学;
