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质谱法中的抗体的自上而下分析

摘要

分离设备从样本中分离已知mAb类的未知的完整mAb或还原mAb亚基。离子源设备将mAb离子化。质谱仪使用ECD设备使离子化的mAb碎裂,并使用质量分析仪对所得到的产物离子进行质量分析,从而产生一个或多个产物离子谱。计算mAb类的一个或多个恒定部分的理论产物离子峰。从一个或多个产物离子谱中移除理论产物离子峰,从而产生一个或多个差异产物离子谱。从头测序被应用于一个或多个差异产物离子谱,从而产生用于mAb的一个或多个可变部分的一个或多个候选序列。在基因组数据库中搜索与一个或多个候选序列的匹配,从而产生用于一个或多个可变部分的一个或多个匹配序列。

著录项

  • 公开/公告号CN111936860A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 DH科技发展私人贸易有限公司;

    申请/专利号CN201980024933.5

  • 发明设计人 马场崇;P·鲁米恩;W·M·洛德;

    申请日2019-04-09

  • 分类号G01N33/68(20060101);G16B40/10(20060101);G16B30/00(20060101);

  • 代理机构11038 中国贸促会专利商标事务所有限公司;

  • 代理人马景辉

  • 地址 新加坡新加坡

  • 入库时间 2023-06-19 08:52:00

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