消除射频源影响的太赫兹混频器变频损耗测试方法及系统

摘要

本公开提供了一种消除射频源影响的太赫兹混频器变频损耗测试方法及系统，待测混频器与至少两个参考混频器两两分组；每个分组中，第一混频器的中频端口输入预设频率和预设功率的信号，经过上变频后输出到第二混频器后进行下变频，获得与预设频率同频的输出功率，得到第一输出功率和第一预设功率与两个混频器损耗的关系；根据各个分组中的混频器损耗与功率的关系，得到待测混频器的损耗；本公开完全排除了射频源的影响，主要通过混频器自身的变频性能完成中频信号的功率精确测试，即可满足太赫兹频段混频器精确测试的要求，同时对测试环境和测试条件要求较低。