公开/公告号CN111883420A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-11-03
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院半导体研究所;
申请/专利号CN202010780681.3
申请日2020-08-05
分类号H01L21/223(20060101);H01L31/18(20060101);
代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;
代理人吴梦圆
地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号
入库时间 2023-06-19 08:48:57
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2023-03-10
发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L21/223 专利申请号:2020107806813 申请公布日:20201103
发明专利申请公布后的视为撤回
机译: 掺硼P型硅晶片中金属污染的评估方法,掺硼P型硅晶片中金属污染的评估装置以及制造掺硼P型硅晶片的方法
机译: 掺硼p型硅晶片中金属污染的评估方法,掺硼p型硅晶片中金属污染的评估装置以及制造掺硼p型硅晶片的方法
机译: 掺硅混合渗硅的掺硼氮化硅纤维