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提高晶硅表层掺磷、掺硼激活率的热扩散方法

摘要

一种提高晶硅表层掺磷、掺硼激活率的热扩散方法,包括以下步骤:在热扩散过程中,通过降低扩入晶硅表层时的磷杂质原子或硼杂质原子的浓度至与所述晶硅表层所需的激活掺杂浓度一致,从而提高掺杂激活率;其中,所述掺杂激活率定义为在同一面积内的替位掺杂离子面密度与相同杂质原子总掺入面密度之比,所述面密度为浓度随深度的积分。本发明的方法能够使间隙杂质浓度和面密度降到最低,掺杂激活率提到最高,有助于提高晶硅半导体材料及其pn结质量,有助于提高晶硅电池的光电转换效率。

著录项

  • 公开/公告号CN111883420A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院半导体研究所;

    申请/专利号CN202010780681.3

  • 发明设计人 韩培德;李韶杰;

    申请日2020-08-05

  • 分类号H01L21/223(20060101);H01L31/18(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人吴梦圆

  • 地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号

  • 入库时间 2023-06-19 08:48:57

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-03-10

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L21/223 专利申请号:2020107806813 申请公布日:20201103

    发明专利申请公布后的视为撤回

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