一种测定氧化钼中钼含量的X荧光熔片制备及分析方法

摘要

本发明公开了一种测定氧化钼中钼含量的X荧光熔片制备及分析方法，涉及冶金成分测定分析技术领域，加入抑制剂，在抑制剂的作用下，低温预熔，然后在高温状态下将熔剂与预熔后的产物熔制成稳定、均一、透明的玻璃片。采用仪器分析替代化学分析，解决了化学分析污染大、周期长、人员素质要求过高等问题，整个分析周期短、操作步骤少，实现了快速、准确、环保地测定。可推广运用于冶金生产企业及钢铁企业的生产过程控制以及使用前验收检验等，大大促进了冶金分析领域仪器分析自动化的提高。