一种物体微小形变的快速检测方法及检测系统

摘要

本发明公开了一种物体微小形变的快速检测方法，包括如下步骤：将N个半导体激光器构成半导体矩阵；在被监测物体的表面，涂上大小均匀的黑白网格，网格交叉点作为观察点；点亮激光器阵列使光斑投影在观察点的中心位置；在被监测物体未工作时，随机点亮激光器阵列，采集n个观察点反射光信号的n次测量结果，记为标定向量；在被监测物体工作后，采用步骤S4中的点亮方式点亮激光器阵列，采集n个观察点反射的光信号的n次测量结果，记为检测向量；计算标定向量和检测向量差的二范数，将二范数与设定阈值对比，判断被测物体是否发生形变。本方法可以准确高效的判断出物体的细微位移，同时不会对被测物体产生破坏和影响，而且检测效率和精度很高。