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基于多光谱分光成像的表面缺陷自动光学检测系统及方法

摘要

本发明属于图像处理相关技术领域,并具体公开了基于多光谱分光成像的表面缺陷自动光学检测系统及方法。该系统包括硬件单元和软件单元,其中硬件单元中的滤光模块用于对待检产品表面的原始光线进行过滤获得过滤光线;分光采集模块用于获得两幅原始图像;软件单元中多光谱分光成像模块用于调节滤光模块的组成以获得预设数量的原始图像;多图像融合检测模块用于对原始图像进行缺陷检测,获得待检产品的表面缺陷;最后利用分类标注模块对表面缺陷进行分类和标注。本发明将颜色信息融入到检测过程中,从根本上提高缺陷检测所需要的信息量,同时融入分光成像的思想,实现对光信息的再次细化,保留大量信息的真实性,极大提供检测的准确性。

著录项

  • 公开/公告号CN111830046A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中科技大学;

    申请/专利号CN202010681840.4

  • 发明设计人 杨华;尹周平;常靖昀;李俊逸;

    申请日2020-07-15

  • 分类号G01N21/88(20060101);

  • 代理机构42201 华中科技大学专利中心;

  • 代理人石梦雅;李智

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

  • 入库时间 2023-06-19 08:41:05

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